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Scan X Ellipse计算机X射线成像系统
?分辨率可达12.5 μm
- 基本空间分辨率可达40μm
- IP板重复使?用多达25000次
- BAM实验室认证产品
- 灰度等级可达16 bit
- 显著减少曝光时间
- 操作简单、维护?方便
- 以太?数据交换
Scan X Ellipse计算机X射线成像系统
可让?用户定义扫描分辨率。 扫描分辨率从20 μm到100 μm可调,既适用于高精度焊缝检测,也能满?短曝光时间、检测速度快的应?场合。?极调节的扫描分辨率确保能以扫描参数满?各种检测应?领域的需求。
高分辨率成像板和ScanX Discover HR扫描仪相结合,基本空间分辨率可以达到40 μm。
无论检测环境是在生产现场或是实验室,ScanX Discover HR*的特性、超高的图像质量以及多功能性可满足各种苛刻的需求。通过选择不同成像板类型,调整扫描参数,用户可以自定义图像质量和曝光时间来完成各种检测。
ScanX Discover HR提供灵活性的成像板扫描?方式,可扫描任意?长度、不同形状的成像板,还能同时扫描多张成像板,并能对多张成像板进?一次性擦除。
ScanX View软件与扫描仪兼容性强,内含的?工具有助于将检测结果调节到显?状态,且结果反复可调。
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